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伦敦大学:功能性磁共振成像让抑郁症无处遁形

来源:中国科技网 | 时间:2015-10-09 13:42:06 | 阅读:109 |  标签: 磁共振 抑郁症   | 分享到:

英国伦敦大学国王学院7日发布研究成果说,利用功能性磁共振成像技术,医护人员能更准确判断康复中的重度抑郁症患者中哪些人更易复发。

伦敦大学:功能性磁共振成像让抑郁症无处遁形

来自伦敦大学国王学院和曼彻斯特大学的研究人员对64名患重度抑郁症但症状已缓解的病人实施功能性磁共振成像扫描,以研究他们脑部出现的变化。

扫描后,研究人员对这些病人进行了持续14个月的跟踪观察,最终有27名病人抑郁症复发。

研究人员发现,从扫描结果看,复发的病人大脑中两个部位,即前颞叶和膝下区的相互关联性变得非常高,而症状持续缓解的病人并没有发现这种现象。

为进一步验证,研究人员让另外一组39人接受了这种成像扫描。他们都没有重度抑郁症的个人和家族病史。结果显示,他们大脑的这两个部位也没有出现较强的关联性。

据研究人员介绍,他们依照大脑的上述特征就能判断康复中的抑郁症病人是否会复发,准确率能达到约75%。

伦敦大学国王学院学者罗兰·扎恩说,这一新方法还需要经过更多测试和改进,以便将准确率提高到80%。届时,它就能真正用于临床,从而填补目前尚无办法准确预测抑郁症复发几率的空白。

这项研究已发表在期刊《美国医学会杂志·精神病学卷》上。

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